測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
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新聞資訊
News時間：04-16 2024 來自：祥宇精密
一、設備原理
影像測量儀是一種基于數字圖像處理技術的測量設備，通過高精度光學鏡頭和CCD攝像機捕捉被測物體的圖像，然后利用數字圖像處理技術對圖像進行分析，從而獲得被測物體的幾何尺寸、形狀和位置等信息。
三坐標測量儀，又稱三次元測量儀，是一種基于空間坐標系的測量設備。它通過測頭系統與被測物體表面接觸，獲取被測點的空間坐標值，然后通過計算處理獲得被測物體的尺寸、形狀和位置等信息。
二、應用領域
影像測量儀主要應用于二維平面尺寸的測量，適用于機械、電子、光電、航空、航天等領域的產品設計、質量控制和生產管理等方面。例如，印刷電路板、集成電路芯片、液晶面板、機械零件等的尺寸測量和輪廓檢測。
三坐標測量儀則主要應用于三維空間尺寸的測量，適用于汽車、模具、家電、航空航天等領域的產品設計、質量控制和生產管理等方面。例如，發動機缸體、變速器殼體、汽車內外飾件、模具型腔、飛機結構件等的尺寸測量和形狀檢測。
三、測量方法
影像測量儀采用非接觸式測量方法，通過圖像分析技術識別被測物體的特征點，然后計算這些特征點之間的距離、角度等幾何關系。這種方法對被測物體無損傷，但受到圖像質量和特征點識別算法的限制，可能存在一定的測量誤差。
三坐標測量儀采用接觸式測量方法，通過測頭系統與被測物體表面接觸，獲取被測點的坐標值。這種方法可以獲得較高的測量精度，但對被測物體可能存在一定的損傷，且測頭系統的設計和制造難度較大，設備成本較高。
四、精度和速度
影像測量儀的測量精度受到鏡頭放大倍率、CCD像素、測量軟件算法等多種因素的影響，一般可達到微米級別。測量速度較快，適合批量測量和在線檢測。
三坐標測量儀的測量精度受到測頭系統、導軌系統、控制系統等多種因素的影響，一般可達到微米甚至納米級別。測量速度相對較慢，適合對精度要求較高的測量任務。
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